“坏块”的完整读/写表面扫描与内置的有何不同SMART 扩展自检？
看起来它们都是全表面扫描，那么为什么badblocks -vws测试 1TB 驱动器需要 3 天时间，而 SMART 只需 2 个半小时（至少这是 smartmon 给我的时间估计）？
答案1
SMART 表面测试几乎肯定是一次单一的、肯定是非破坏性的读取过程。正如已经指出的那样，它也是驱动器内部的；除了可能的次要控制数据外，测试期间不会向主机传递任何数据或从主机传递任何数据。
另一方面，badblocks -w对驱动器进行四次传递，每次一次写入和一次读取。仅这一点就导致测试时间相差 8 倍，再加上旋转延迟。由于它是在主机上运行的软件，因此所有这些数据都需要通过磁盘接口传输到 RAM 并由软件处理（在我们的例子中是坏块）。
如果我们采用最坏情况的旋转延迟 1×（磁盘在写入数据后需要旋转一圈才能读回数据，这几乎就是您所看到的，如果您喜欢 badblocks，它会先填满整个磁盘，然后再将其全部读回，而不是一次对一个物理轨道进行 I/O，而使用 LBA 几乎是不可能的），我们最终会得到最坏情况 (1+1) × 8× = 16× 完成操作所需的时间。16 × 2.5h = 40h，这肯定与您的数字一致，并且仍然假设我们只处理驱动器上的数据存储，并且它的发生速度与驱动器可以维持顺序 I/O 的速度一样快。
答案2
SMART 短测试和长测试仅执行（局部）扇区读取；它也不会破坏数据。读取的数据仅传输到板载控制器，而不是主机 PC。SATA 接口在测试期间基本处于空闲状态，PC 上的 HDD 活动指示灯不应亮起。
badblocks -vws正在请求写入扇区然后读取和验证操作。每次写入和读取都会增加磁盘旋转次数，以及通过 SATA 接口传输数据的时间和主机 PC 处理时间。HDD 活动指示灯应该大部分时间都亮着。
答案3
https://wiki.archlinux.org/index.php/badblocks#Comparisons_with_Other_Programs
需要注意的是，有些制造商的测试程序不会打印完整的测试结果，并且只允许一定数量的坏扇区来判断是否通过。但是，制造商程序通常比坏块更快，有时甚至更快。
因此，请尽可能使用 badblocks 的破坏性彻底测试。
编辑：我说的破坏性是指许多现代硬盘的工作负载为 180TB/年，也就是说，如果你运行完整的坏块测试集来测试 12TB 硬盘，你将承受 96TB 的工作负载。如果工作负载仅指写入，则可能是 48TB，这可能是这种情况，但记录不全。