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您将如何测试（破坏）microSD 卡的使用寿命？

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您将如何测试（破坏）microSD 卡的使用寿命？

我在产品中使用 microSD 卡，由于坏扇区，我遇到了一些故障。我还有同一批的更多 SD 卡，我想看看我是否可以对它们进行破坏性测试（即直到扇区磨损），并测量在此之前写入卡中的总数据量。

我该如何做这件事？

谢谢

答案1

一种简单的方法是使用安全磁盘擦除工具。这些工具将一系列数据写入驱动器上的每个位置。这将测试驱动器的所有扇区。您可以反复运行这些工具以确保磁盘非常干净。此清理将耗尽 SD 卡的使用寿命。如果您跟踪卡发生故障前运行的次数，您将知道向磁盘写入了多少数据。也就是说，这是驱动器的最佳情况，因为写入分布在整个磁盘上。

最糟糕的情况是反复写入同一个扇区，直到扇区发生故障。这将导致在卡开始发生故障之前写入的数据量最少。如果您要写入一个文件并删除它，然后反复写入，这应该会导致卡过早发生故障，写入的数据量最少。这假设卡不是智能的，不会像 SSD 那样在闪存中重新映射扇区。

以上两项操作都可以使用 Linux 中的 dd 命令或 Linux live CD 来完成。

假设设备是 /dev/sdx，则以下操作应该有效。

i=0
while :
do
  dd if=/dev/urandom of=/dev/sdx bs=1024 count=1000
  if [ $? != 0 ];then break;fi
  let i=i+1
  echo $i
done

这并不完美，但几乎可以达到你不编写代码就能达到的效果。每次迭代时，它将向磁盘写入 1MB 的随机数据。当 dd 开始出错时，它将退出，然后你就会知道在失败之前经过了多少次迭代。这里最大的缺陷是数据是随机的。如果位与之前相同，则闪存可能不会写入它们，因此不会执行。假设分布完美，结果将是失败所需的实际写入次数的两倍。

更完美的解决方案是在零和一之间进行迭代或使用交替棋盘。如果 Linux 中没有 /dev/one 设备，那么这需要比我认为更复杂的解决方案。

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