我最近在旧的 A8N-E 主板上的一些金士顿 EEC DDR（不是 2、3 或 4）上以不同的配置运行了 Memtest86+ (5.01)。有些测试出现了错误，但现在我很难解释结果。
首先，我将列出硬件，然后列出测试的不同配置，然后列出有关错误的其他观察结果。最后，我将列出我试图从中得出的结论。
硬件
- 2x1 GB ECC 金士顿 KVR
- 1x1 GB 非 EEC 金士顿 KVR
- 2x512 MB EEC 金士顿
- 古老的华硕 A8N-E 主板
测试了产生错误的配置
- 2x1 GB 支持 EEC（禁用 EEC）— 双通道
- 2x1 GB + 2x512 MB — 支持 EEC（禁用 EEC）— 双通道
- 2x1 GB + 2x512 MB — 支持 EEC（启用 EEC）— 双通道
已测试尚未产生错误的配置
- 2x512 MB EEC 功能（EEC 禁用）— 双通道
- 1x1 GB 支持 EEC + 1x1 GB 支持非 EEC — 双通道
- 1x1 GB 支持 EEC（禁用 EEC）
- 1x512 MB EEC 功能（EEC 禁用）
- 更新：1x1 GB 支持 EEC + 2x512 MB（支持 EEC）
观察结果
- 出错的地址始终相同（39037fdc — 912.4 MB），但有一次我猜我调换了模块的位置，结果地址变成了 79017fdc（1936.4 MB）。用一个地址减去另一个地址可得出：0x79017fdc - 0x39037fdc = 0x3ffe0000 = 1 073 610 752，即几乎(?!) 正好是 1 GiB（1 GiB 是 1073.74 MB — 而不是 1073.61 MB）。它描绘了两个模块交换位置并且错误发生在其中一个 DIMM 之后的画面。
- 故障位始终相同（00020000），无一例外。我假设每次都是完全相同的错误，在完全相同的存储单元中（术语？）。
- 它总是在名为“[随机数序列]”的“测试 9”中失败。
- 仅运行测试 9 似乎可以缩短失败的时间。
- 仅测试失败的地址，即仅测试兆字节 911-913 似乎不会按比例加快失败时间。例如，在整个 2 GB 上进行三次完整的测试 9 可能会导致错误，而在失败的兆字节上进行 100 次测试 9 则不会。
- 启用错误更正并不能阻止错误的发生。
我的假设
- 这可能不是电源或主板的问题，因为这可能会导致不同的地址/位
- 它位于两个 1 GB EEC 模块之一中。
- 我无法确定是哪一个，因为在仅使用一个模块时似乎不会发生这种情况，在双通道配置中使用非 EEC 等效模块时也不会发生这种情况
我的问题
我的假设合理吗？从这些结果中还能学到什么？是否有任何特殊原因导致某些特定的非失败测试应该再次运行？
答案1
RAM 可以在不同的主板上工作吗？
如果是，则主板或 CPU 已损坏。
这可能不是电源或主板的问题，因为这可能会导致不同的地址/位
RAM 和 CPU 之间有各种层，其中之一就是 CPU 缓存。
另一个是芯片组，它是主板组件。
当然，还有 DIMM 插槽本身。
主板上通向芯片组或 CPU 的线路故障可能会导致持续的单比特错误。DIMM 插槽中某个引脚的问题也可能导致同样的问题。
这两种情况发生的可能性都比损坏的 DIMM 要小得多，因此请先在不同的主板上尝试 RAM。