闪存辐射强度测试保证

闪存辐射强度测试保证

我想在基于 ARM 的 Linux 发行版(带有 256 kB NAND 闪存的 CORE9G25 设备上的 Linux 4.4.12)上进行长期辐射记忆测试。确切地说,我想定义闪存的某个内存区域,将数据写入其中,等待指定的时间段,然后读出该数据并检查位翻转/数据损坏。

有没有 Debian 软件包可以帮助我,或者您知道另一种简单的方法吗?例如,我曾考虑将每个位都设置为 1,然后检查它们是否仍然为 1,但我想这是一种相当缓慢且不方便的方法。

编辑:内置 NAND 闪存设备是三星的 K9F2G08U0B

提前致谢!

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