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HGST He8 SMART 测试扩展自测试轮询时间变化

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HGST He8 SMART 测试扩展自测试轮询时间变化

我最近收到了一批 6 个全新的 HGST He8 驱动器，在对它们进行初始长时间自检时，我注意到扩展自检程序推荐的轮询时间表现出非常大的变化程度。

for f in /dev/sd[u-z]; do sudo smartctl -i $f | grep "Model"; done
Device Model:     HGST HUH728080ALN600
Device Model:     HGST HUH728080ALN600
Device Model:     HGST HUH728080ALN600
Device Model:     HGST HUH728080ALN600
Device Model:     HGST HUH728080ALN600
Device Model:     HGST HUH728080ALN600

for f in /dev/sd[u-z]; do sudo smartctl -a $f | grep -A1 "Extended self-test"; done
Extended self-test routine
recommended polling time:    (1367) minutes.
Extended self-test routine
recommended polling time:    (1217) minutes.
Extended self-test routine
recommended polling time:    (1242) minutes.
Extended self-test routine
recommended polling time:    (1133) minutes.
Extended self-test routine
recommended polling time:    (1167) minutes.
Extended self-test routine
recommended polling time:    (1083) minutes.

有人见过他们的驱动器有这样的变化吗？或者能解释一下是什么原因导致了如此大的变化吗？

答案1

HDD 是非常复杂的机械设备。虽然它们被宣传为 7200 RPM 磁盘，但每个磁盘都有自己的特定转速（例如：7170 或 7220 RPM）。音圈致动器和其他伺服器也是如此。

简而言之，同一型号/批次的两个磁盘非常相似，但实际上并不完全相同的。

据记录，我在 2x Seagate 4TB NAS 磁盘上的 SMART 长自检轮询时间上观察到了类似的差异。

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