我用来badblocks测试我用来启动 RPi 的 32GB class-10 microSD 卡。我已经有一个正常运行的文件系统，所以我不想使用选项-w（破坏性读写测试）扫描它。
我有两个选择：我可以使用默认的只读测试，或者我可以使用非破坏性读写测试（通过备份扇区，对其进行破坏性测试，然后恢复扇区的原始内容来完成）。
选择测试类型时应该考虑什么？我希望它尽可能快，但我也需要准确的结果。
答案1
只读测试仅读取。这基本上是几乎所有内容的默认测试方法，与磁盘进行 SMART 自测试的方法几乎相同。
无损读写测试的工作原理是覆盖数据，然后读取验证，然后将原始数据写回。验证写入数据是否有效的唯一方法是实际写入数据，没有只读测试可以为您做到这一点。
只进行读取测试的人（大多数，只是因为写入测试至少需要两倍的时间）只是善意地认为，当读取有效时，写入（以及能够读取稍后写入的数据）可能也会有效。
然而，非破坏性是相对的......毕竟，写入本身可能会破坏它（在写入周期有限的介质上），并且一旦它被破坏，就没有办法将原始数据写回，所以即使测试是非破坏性的，如果您的硬件出现故障，它仍然可能会丢失一些额外的数据。
因此，如果您希望恢复的介质上有数据，则不应使用坏块。尤其是如果您已经知道它会变坏的话……如果您还没有备份，请直接执行ddrescue。这也恰好是一个只读测试，日志文件会告诉您错误区域在哪里......