几周前我购买了新的 Western Digital Elements 3TB。
像往常一样，我进行了所有 SMART 测试，然后进行了坏块测试，然后再次进行了 SMART 测试。
当我第一次拿到驱动器时，SMART 显示以下内容：
Short self-test routine
recommended polling time: ( 2) minutes.
Extended self-test routine
recommended polling time: ( 7) minutes.
然后，我进行了一次简短的 SMART 测试和一次长时间的 SMART 测试，结果正常：
SMART Self-test log structure revision number 1
Num Test_Description Status Remaining LifeTime(hours) LBA_of_first_error
# 1 Extended offline Completed without error 00% 0 -
# 2 Short offline Completed without error 00% 0 -
然后，我进行了完整的badblocks 破坏性写入测试，结果没有显示坏块。
然后，我又进行了一次 SMART 简短自检，结果也正常：
SMART Self-test log structure revision number 1
Num Test_Description Status Remaining LifeTime(hours) LBA_of_first_error
# 1 Short offline Completed without error 00% 261 -
# 2 Extended offline Completed without error 00% 0 -
# 3 Short offline Completed without error 00% 0 -
然后我又进行了一次长时间的 SMART 测试，结果卡在 90%，甚至 24 小时后！
Self-test execution status: ( 249) Self-test routine in progress...
90% of test remaining.
在此期间，延长的自检例行时间已从 7 分钟更改为682分钟！
Short self-test routine
recommended polling time: ( 2) minutes.
Extended self-test routine
recommended polling time: ( 682) minutes.
我把它退回去，以为只是驱动器出了故障，但是替代的（也是新的）节目确切地相同序列后出现相同错误。
我有将此问题发布到 WD 社区但没有得到回应。
这是批量问题（例如错误的 EEPROM 命令）还是驱动器的已知问题（例如，SMART 固件溢出被一长串 0xff 触发？）？我应该返回并重试还是更换其他品牌/型号？