是否有一个测量标准可以衡量以下存储设备的可靠性:
SD卡
sata 硬盘(无论2.5寸还是3.5寸)
ssd硬盘(无论2.5寸还是3.5寸)
据我所知,sd 卡和 ssd 硬盘的可靠性都是通过写入次数来衡量的,而 sata 硬盘则是通过无法存储数据之前的总小时数来衡量的。
那么,是否存在一种标准的测量方法可以测量不同类型的存储设备(可能还包括其他存储设备,例如 IDE 硬盘)的可靠性?
是否有一个测量标准可以衡量以下存储设备的可靠性:
SD卡
sata 硬盘(无论2.5寸还是3.5寸)
ssd硬盘(无论2.5寸还是3.5寸)
据我所知,sd 卡和 ssd 硬盘的可靠性都是通过写入次数来衡量的,而 sata 硬盘则是通过无法存储数据之前的总小时数来衡量的。
那么,是否存在一种标准的测量方法可以测量不同类型的存储设备(可能还包括其他存储设备,例如 IDE 硬盘)的可靠性?