看一下 SMART-ID 值 D8：
哪一个是正确的？当前状态真的很重要吗？RAW 值并没有什么不同：
- 晶振读取11h = 17
- Passmark 读取 17 = 11h
答案1
为了给您指明正确的方向，因为您的问题显示了最少的努力和研究。
从技术角度来看，标准化值低于阈值，因此在右侧工具的简单视图中，SMART 属性失败。低于阈值 = 特定属性失败。
因此，不要争论哪个工具是正确的，而是研究端到端错误或报告的 IOEDC 错误属性。
Seagate的描述：
属性 ID 184：报告的 IOEDC 错误标准化报告的 IOEDC 错误 = 100 – 生命周期 IOEDC 错误。此属性跟踪主机启动的读取和写入期间遇到的 IOEDC 错误数。
原始用法
原始 [3 – 0] = 生命周期 IOEDC 计数
它可以检测并计算数据从主机传输到磁盘时发生的错误。因此据我所知，这可能是电缆“噪音”以及 RAM 缓冲区错误。
正如希捷自己所说：
如果在从 FIFO 传输到光盘的过程中触发了 IOEDC，数据将从缓冲区重新传输到光盘，最多 4 次。如果 IOEDC 仍然失败，驱动器将向介质写入无法纠正的数据。当对该位置发出后续读取时，将向主机返回硬错误（无法纠正），而不会不必要地导致 IOEDC 失败，从而导致主机级重试。
我会备份数据并运行扩展 SMART 测试，然后从那里开始。除此之外，您还可以使用制造商的实用程序 (Seatools) 检查驱动器。