FAILED!由于SmartCTL 检查的状态而收到警告。
=== START OF SMART DATA SECTION ===
SMART overall-health self-assessment test result: FAILED!
- NVM subsystem reliability has been degraded
同事说这是因为驱动器监控不正确，没有什么不好的。
但看起来并非如此。
是否需要更换驱动器？
SMART/Health Information (NVMe Log 0x02)
Critical Warning: 0x04
Temperature: 36 Celsius
Available Spare: 100%
Available Spare Threshold: 10%
Percentage Used: 100%
Data Units Read: 1,688,838,473 [864 TB]
Data Units Written: 1,293,261,847 [662 TB]
Host Read Commands: 5,457,149,587
Host Write Commands: 3,494,810,022
Controller Busy Time: 62,331
Power Cycles: 30
Power On Hours: 19,491
Unsafe Shutdowns: 15
Media and Data Integrity Errors: 0
Error Information Log Entries: 96
Warning Comp. Temperature Time: 0
Critical Comp. Temperature Time: 0
Temperature Sensor 1: 36 Celsius
Temperature Sensor 2: 48 Celsius
该Percentage Used: 100%字段是否意味着所有可用磁盘资源（估计保证无问题使用）已耗尽，需要更换磁盘？
答案1
您的 SMART 日志Percentage Used: 100%，表示您的 NVMe 驱动器已达到其最大写入资源，也称为TBW.
这并不意味着它已经死亡或出现故障，但有不保证它能进一步工作，即它可能随时失败。如果您关心您的数据，则必须更换它。