我的 SSD 现在有 226 个坏扇区。这严重吗?

我的 SSD 现在有 226 个坏扇区。这严重吗?

Ubuntu 13.04。我的 SSD 上的坏扇区数量一直在稳步增加,今天已经达到 226 个坏扇区。

问题是,我不知道 226 个坏扇区是 SSD 的 0.0001%、1% 还是 99%。

今天早上我在网上没有找到任何可以回答这个问题的东西。

磁盘实用程序也没有告诉我,而且我无法在 SMART 数据中找到该信息。


sudo smartctl -a /dev/sda显示如下:

smartctl 5.43 2012-06-30 r3573 [x86_64-linux-3.8.0-31-generic] (local build)
Copyright (C) 2002-12 by Bruce Allen, http://smartmontools.sourceforge.net

=== START OF INFORMATION SECTION ===
Device Model:     Samsung SSD 840 PRO Series
Serial Number:    S1ATNEAD645474H
LU WWN Device Id: 5 002538 5503c15c0
Firmware Version: DXM05B0Q
User Capacity:    256,060,514,304 bytes [256 GB]
Sector Size:      512 bytes logical/physical
Device is:        Not in smartctl database [for details use: -P showall]
ATA Version is:   8
ATA Standard is:  ATA-8-ACS revision 4c
Local Time is:    Fri Jan 24 20:37:08 2014 CST
SMART support is: Available - device has SMART capability.
SMART support is: Enabled

=== START OF READ SMART DATA SECTION ===
SMART overall-health self-assessment test result: PASSED

General SMART Values:
Offline data collection status:  (0x00) Offline data collection activity
                                        was never started.
                                        Auto Offline Data Collection: Disabled.
Self-test execution status:      (   0) The previous self-test routine completed
                                        without error or no self-test has ever
                                        been run.
Total time to complete Offline
data collection:                (53956) seconds.
Offline data collection
capabilities:                    (0x53) SMART execute Offline immediate.
                                        Auto Offline data collection on/off support.
                                        Suspend Offline collection upon new
                                        command.
                                        No Offline surface scan supported.
                                        Self-test supported.
                                        No Conveyance Self-test supported.
                                        Selective Self-test supported.
SMART capabilities:            (0x0003) Saves SMART data before entering
                                        power-saving mode.
                                        Supports SMART auto save timer.
Error logging capability:        (0x01) Error logging supported.
                                        General Purpose Logging supported.
Short self-test routine
recommended polling time:        (   2) minutes.
Extended self-test routine
recommended polling time:        (  20) minutes.
SCT capabilities:              (0x003d) SCT Status supported.
                                        SCT Error Recovery Control supported.
                                        SCT Feature Control supported.
                                        SCT Data Table supported.

SMART Attributes Data Structure revision number: 1
Vendor Specific SMART Attributes with Thresholds:
ID# ATTRIBUTE_NAME          FLAG     VALUE WORST THRESH TYPE      UPDATED  WHEN_FAILED RAW_VALUE
  5 Reallocated_Sector_Ct   0x0033   097   097   010    Pre-fail  Always       -       238
  9 Power_On_Hours          0x0032   099   099   000    Old_age   Always       -       1331
 12 Power_Cycle_Count       0x0032   099   099   000    Old_age   Always       -       341
177 Wear_Leveling_Count     0x0013   097   097   000    Pre-fail  Always       -       75
179 Used_Rsvd_Blk_Cnt_Tot   0x0013   097   097   010    Pre-fail  Always       -       238
181 Program_Fail_Cnt_Total  0x0032   097   097   010    Old_age   Always       -       238
182 Erase_Fail_Count_Total  0x0032   100   100   010    Old_age   Always       -       0
183 Runtime_Bad_Block       0x0013   097   097   010    Pre-fail  Always       -       238
187 Reported_Uncorrect      0x0032   100   100   000    Old_age   Always       -       0
190 Airflow_Temperature_Cel 0x0032   067   062   000    Old_age   Always       -       33
195 Hardware_ECC_Recovered  0x001a   200   200   000    Old_age   Always       -       0
199 UDMA_CRC_Error_Count    0x003e   099   099   000    Old_age   Always       -       1
235 Unknown_Attribute       0x0012   099   099   000    Old_age   Always       -       128
241 Total_LBAs_Written      0x0032   099   099   000    Old_age   Always       -       33308592070

SMART Error Log Version: 1
No Errors Logged

SMART Self-test log structure revision number 1
No self-tests have been logged.  [To run self-tests, use: smartctl -t]


SMART Selective self-test log data structure revision number 1
 SPAN  MIN_LBA  MAX_LBA  CURRENT_TEST_STATUS
    1        0        0  Not_testing
    2        0        0  Not_testing
    3        0        0  Not_testing
    4        0        0  Not_testing
    5        0        0  Not_testing
  255        0    65535  Read_scanning was never started
Selective self-test flags (0x0):
  After scanning selected spans, do NOT read-scan remainder of disk.
If Selective self-test is pending on power-up, resume after 0 minute delay.

答案1

我们的 SSD 智能数据显示,您使用了 SSD 1331 小时,您的 SSD 遭受了 33308592070*512/1024^4=15,5 TiB 的写入。这意味着您的 SSD 每通电一小时大约有 12 GiB 的写入。对于典型的消费者 SSD 使用来说,这相当多。您将 SSD 用于什么用途?

您仍远低于 SSD 的写入周期限制,SSD 是基于 MLC 的,因此应该可以承受约 3000 次写入周期,这意味着约 256GB*3000=768 TB 的写入量。因此我认为您是安全的。

但是您的 SMART 数据显示,现在您已经有 238 个重新分配(故障)扇区。与您驱动器上的几亿个扇区相比,这个数字仍然非常低,但令我惊讶的是,仅在 60-70 个写入周期后,您的 SSD 就有故障块。您的 SSD 上还有一些备用空间吗?SSD 需要一些备用空间才能有效地管理驱动器上的磨损。如果驱动器几乎已满,由于磨损均衡算法的写入增加,它会磨损得更快。

这里这是显示 840 PRO 256 GB SSD 写入测试的图表。写入 300 TB 后,重新分配扇区仍然为零,或接近于零。写入不到 20 TB 后,重新分配扇区超过 200 个。

您使用的是驱动器的最新固件。我不想让您担心,但我认为您应该联系三星的 SMART 输出,并询问他们的意见。我认为您的驱动器存在某种问题。


更新:

在三星做出回应之后 - 他们基本上说一切都很好 - 我想说,只要你没有遇到数据丢失,(只要在写入操作期间发现坏块)我想你就不必担心。

您可以在运行时坏块行(238,原始值)是程序失败总数(238,表示写入操作失败)总擦除失败次数(0,即失败的擦除操作)和失败的读取操作。因此,在生成智能输出时,驱动器上的失败读取操作是 238-238-0=0,因此您没有任何失败的读取,也没有任何数据丢失。

如果您的驱动器在不久的将来也开始遇到读取失败的情况(这意味着运行时坏块不等于程序失败总数+总擦除失败次数),可能会丢失数据,我会重新联系三星。在那之前,请尽情享受您的 SSD。

答案2

最终,三星 840 Pro SSD 在 2014 年晚些时候出现了灾难性的故障。它被保修期内的三星 850 Pro 替换,自那时起,它一直运行良好,并且仍然没有报告任何坏扇区。我对此感到很高兴,因为我认为这也许是 SSD 的“未记录的功能”。

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